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防止反向竊取芯片設計信息的新式封裝出爐

雖然目前有多種硬件和軟件防攻擊對策,但是芯片背面的安全威脅仍然存在。

  芯片可能遭受攻擊的方法有許多種,包括利用紅外線、化學延遲和掃描聚焦離子束等方式,雖然目前有多種硬件和軟件防攻擊對策,但是芯片背面的安全威脅仍然存在。

      法國能源署電子暨信息技術實驗室(LETI)提出了一種低成本的芯片保護方法,即可防止反向竊取芯片設計信息的的新式封裝,能夠讓芯片免于來自芯片背面的侵入式和半侵入式攻擊。

  芯片竊取目的在于除去芯片上的材料,并進一步存取IC。接著還可能利用這種IC存取方式取得設計信息,以及潛在的數(shù)據(jù)。Leti安全營銷經(jīng)理Alain Merle說:“建置多種硬件和軟件對策,能夠讓IC更加安全,但芯片的背面仍然存在易于受到實體攻擊的風險。”

  因此,Leti提出了一種夾在兩種聚合物之間的金屬卷繞軌跡所制成的隔離罩,其中一層聚合物對于紅外線不透光,而且能隱藏卷繞路徑。在內(nèi)層的聚合物是專為偵測化學攻擊而設計的,

  

防止反向竊取芯片設計信息的新式封裝出爐

 

  安全IC的背面隔離罩示意圖。(來源:Leti)

  保護作用來自沿著卷繞軌跡線的電阻,或覆蓋整個芯片背面的多條卷繞軌跡。任何改變卷繞軌跡的行動也將會改變可用于觸發(fā)或刪除敏感數(shù)據(jù)的電阻。

  Leti指出,由于這些芯片都采用標準的封裝制程,只需幾個額外的步驟和低成本,即可提供硬件安全性說。

  Leti的“背面隔離罩保護安全IC免受實體攻擊”(Backside Shield against Physical Attacks for Secure ICs.)研究成果將在“美國裝置封裝會議”(Device Packaging Conference in Fountain Hills)上發(fā)表。

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