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TFT-LCD驅動芯片測試平臺的設計和實現

1 引言
    近年來,隨著手機和MP4等視頻播放器等產品數量迅猛增長,據估計,今年手機的產量就達到10億臺,競爭趨于白熱化。對于屏幕顯示效果,消費者也提出了更高的要求。顯示效果很大的部分取決于驅動IC的質量。顯示屏的驅動IC成了很多廠家爭奪的焦點。目前國內就有超過二十家的設計公司從事小屏幕顯示屏的驅動IC的設計。在每一款的IC量產之前,必須經過反復的調試,以保證各項設置符合設計的要求,并且達到較好的顯示效果。設計高速度,調試方便,并且美觀的測試平臺可以方便的調試出較好的效果,減少調試時間,而且可以給客戶耳目一新的感覺,提高產品競爭力度。本論文是針對Focaltech-systems公司開發(fā)的TFT_LCD驅動芯片FT1505設計的測試平臺。采用的C8051F130是一款由Cygnal公司新推出的高性能高速單片機,具有高速、流水線結構的8051兼容的CIP-51內核,執(zhí)行指令最快速度可達100 MIPS,與8051系列比較增加了很多資源,他在片內集成了構成一個單片機數據采樣或控制系統(tǒng)所需的幾乎所有模擬和數字外設以及其他功能部件。符合搭建平臺的要求。在2007深圳舉行的CHINA IC上,展示了用此平臺驅動的模組,吸引了很多客戶和參觀者的眼球,達到非常好的效果。

2 系統(tǒng)硬件電路設計
    系統(tǒng)硬件電路主要包括各種電源/升壓電路,MCU,片外FLASH,驅動IC,高速USB下載口周邊電路和之間的接口電路。整個系統(tǒng)架構圖1。

(1)電源/升壓電路
    電源電路主要由APW7080提供5V電壓和APL1117提供3.3V電壓。升壓電路主要由DS9197構成??梢哉{節(jié)變阻器提供1.5~4.5V電壓。

(2)MCU周邊電路和其他部分接口電路(圖2)

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    MCU的P0接FLASH的8位數據總線,P1,P2,P3接FLASH,驅動IC的地址總線。P6口接FLASH和驅動IC的控制信號線。flash_nce,flash_nwe,flash_noe分別是FLASH的片選,寫,讀控制信號,高電平有效。TFT_IM3~TFT_IMO是驅動IC的讀數據接口選擇。選1100時是8位接口,選1101時是16位接口。TFT_ncs, TFT_RS,TFT_nwr,TFT_RD,TFT_nRST分別是驅動IC的片選,寄存器選擇,寫,讀及硬件復位的控制信號線,控制驅動IC的時序。MCU通過TMS,TCK,TDI,TDO四個引腳與高速USB下載口相連,可以從系統(tǒng)外下載圖片等數據到FLASH。

(3)FLASH,驅動IC周邊電路及接口電路(圖3,圖4)
    Addr0~Addr20是合用的顯示數據,地址總線,DATA0~DATA7是FLASH的存儲數據的地址總線。RS,CS,WR,RD,RST是時序控制線,通過軟件的控制來實現從FLASH和單片機內存中取出數據,傳送到IC的數據接口,實現IC的正常工作。

3 系統(tǒng)軟件設計
(1)初始化和時序控制
    在硬件系統(tǒng)上電復位后,通過軟件根據MCU,Flash,驅動芯片和顯示屏的特性來初始化。包括設置定義各個接口引腳,設置寄存器的值確定驅動IC的工作條件,工作模式等。把圖片和其他的顯示數據通過高速USB接口下載到片內RAM和片外Flash中。之后,根據驅動IC的時序給顯示模組送顯示數據。驅動IC的讀寫控制時序由圖5表示。IC的時序控制信號有RS,CS,WR,RD四個。它們分別是寄存器使能信號,片選信號,寫使能信號和讀使能信號。另外通過RST控制線來硬件復位。[nextpage]

(2)寫程序
    包括寫MCU片內RAM和寫片外Flash。較小數據量可以直接寫到片內RAM中,片內RAM的優(yōu)點是數據傳送速度快,可以在線調試,缺點是儲蓄容量較小。C8051F130的片內RAM是128 kBytes。存儲較大容量的圖片是需要采用片外Flash。片外的Flash傳送速度較慢,儲蓄容量較大,采用的AM29LV160內存大小是2 Mbytes。其存儲空間分布如表1。把一幅320*240的BMP格式文件轉為16位真彩的HEX文件,大小是150 kBytes。一個Flash中可以容納10幅圖片的數據量。C8051F130每次可以處理64 Kbytes以下的數據。為方便計算地址,將每幅圖片分成5段,前4段大小是32Kbytes,最后一段大小是22Kbytes。下載一個Flash中所有數據,分10*5次下載。

    從表中看到SA0~SA3的大小和SA4~SA34不同,在寫數據時要特別注意地址的分配。

(3)讀程序
    可以從RAM或片外FLASH讀取。驅動IC和FLASH之間是采用直接讀取方式,FLASH中的數據通過時序控制直接通過Addr0~Addr17送到IC。

4 結束語
    本文針對LCD的調試環(huán)境設計一個基于C8051F130的TFT_LCD測試平臺,全貌圖如圖6,圖7,FLASH在PCB背面。通過多次測試和試用,證明是一個高速,穩(wěn)定,方便的調試平臺。對類似COG調試和測試系統(tǒng)有借鑒意義。

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